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半导体器件高度温度试验箱控制系统:
恒温恒湿试验设备一般采用韩国进口TEMI300液晶显示可编程温度控制器或日本进口OYO温湿度控制仪表和温湿度对照表,智能型高精度数显PID微电脑温度控制仪表,薄膜式按键,触控式设定、数位及直接显示,湿度直接显示百分比,感温传感器采用PT100铂电阻测试器。温度控制采用热平衡调温方式。用韩国进口TEMI300液晶显示可编程温度控制器可以做程序试验,可以有多组多段编程操作,定值和程序任选,时间任意设定的功能。温湿度对照表温度直接显示,湿度参照温湿度对照表参数设定,温度对照