日期:2019-04-26 09:08
度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
（2）如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：
1)在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；
2)用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用该方法。
（3）如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率应与试样的曲率相同。