LED芯片寿命试验过程全解析 (1)
日期:2012-07-23 08:52
下的寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的*价,而我们试验的主要目的是,通过寿命试验掌握LED芯片光输出衰减状况,进而推断其寿命。根据LED器件的特点,经过对比试验和统计分析,最终规定了0.3~0.3mm2以下芯片的寿命试验条件:

[1].样品随机抽取,数量为8~10粒芯片,制成ф5单灯;

[2].工作电流为30mA;

[3].环境条件为室温(25℃5℃);

[4].试验周期为96小时、1000小时和5000小时三种;

工作电流为30mA是额定值的1.5倍,是加大电应力的寿命试验,其结果虽然不能代表真实的寿命情况,但是有很大的参考价
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