LED芯片寿命试验过程全解析 (1)
日期:2012-07-23 08:52
采用单灯器件形式直观。采用单灯器件形式进行寿命试验,造成器件的光衰老化的因素复杂,可能有芯片的因素,也有封装的因素。在试验过程中,采取多种措施,降低封装的因素的影响,对可能影响寿命试验结果准确性的细节,逐一进行改善,保证了寿命试验结果的客观性和准确性。

3.1样品抽取方式

寿命试验只能采用抽样试验的*估办法,具有一定的风险性。首先,产品质量具备一定程度的均匀性和稳定性是抽样*估的前提,只有认为产品质量是均匀的,抽样才具有代表性;其次,由于实际产品质量上存在一定的离散性,我们采取分区随机抽样的办法
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